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產品簡介
粗糙度儀時代測量平臺：TA610測量平臺，TA620/ETA620測量平臺，TA630微調平臺詳細信息
TA610測量平臺
齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來
測量不容易放置的工件，可提高測量精度花崗巖平臺工作精度：
00級（平面公差值3μm）
花崗巖平臺尺寸：
400×250×70mm
垂直升降高度：270mm
垂直升降微調量：20mm
TA620/ETA620測量平臺
絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測
量形狀較小的工件，可提高測量精度花崗巖平臺工作精度：
00級（平面公差值3μm）
花崗巖平臺尺寸：
400×250×70mm
垂直升降高度：
300±1mm
升降回程誤差：
≤手輪旋轉1/6圈
TA630微調平臺
TA630微調平臺，X—Y平面轉角，俯仰角。
調整范圍：X向±12.5mm
Y向±12.5mm
旋轉角度：粗調360
微調±5
俯仰角度0~5
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