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產品簡介
美國Source1X射線成像系統無損檢測X射線探傷詳細信息
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美國Source1X射線成像系統
類別：儀器儀表/無損檢測儀器/其他無損檢測儀器
關鍵詞：小型X射線管/小型X射線源/小型X光管/X射線檢測系統/美國Source1/進口X射線機/進口小焦點X射線系統/X射線儀器/美國Source1小焦點X-ray射線機/50KV射線檢測系統
型號：CMX5000
規格：50kV 300μA
產品描述: 該產品是一個*的實時檢測系統，可應用在微電子制造行業的各個方面，包括質量控制和工藝驗證。可為生產和返工流程提供快速、實時x射線檢查。其獨立的控制臺可輕松地適于多種應用,包括多層pcb板、小孔鉆削、大背板和復雜組件（如BGA和芯片封裝）。
CMX5000參數
電壓 | 50KV | 電流 | 300μA |
zui大功率 | 21W | 焦點尺寸 | 0.25x0.25mm |
靶材 | 鎢 | 窗口材料 | 鈦 |
窗口厚度 | 0.005英寸 | 輸入電壓 | 80-230VAC |
陽極 | 接地陽極 | 放大率 | 7-40倍 |
分辨率 | >20 lp/mm | 檢測PCB板zui大尺寸 | 610 x 610mm |
儀器尺寸 | 489.9*317.5*254.0mm | 重量 | 17kg |
*******************************************************************
型號：CMX7000
規格：70kV 300μA
產品描述: 該產品是一個*的實時檢測系統，可應用在微電子制造行業的各個方面，包括質量控制和工藝驗證。可為生產和返工流程提供快速、實時x射線檢查。其獨立的控制臺可輕松地適于多種應用,包括多層pcb板、小孔鉆削、大背板和復雜組件（如BGA和芯片封裝）。
CMX7000參數
電壓 | 70KV | 電流 | 300μA |
zui大功率 | 21W | 焦點尺寸 | 0.25x0.25mm |
靶材 | 鎢 | 窗口材料 | 鈦 |
窗口厚度 | 0.005英寸 | 輸入電壓 | 80-230VAC |
陽極 | 接地陽極 | 放大率 | 7-40倍 |
分辨率 | >20 lp/mm | 檢測PCB板zui大尺寸 | 610 x 610mm |
儀器尺寸 | 489.9*317.5*254.0mm | 重量 | 17kg |
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型號：CMX8000
規格：80kV 150μA
產品描述: 該產品是一個*的實時檢測系統，可應用在微電子制造行業的各個方面，包括質量控制和工藝驗證。可為生產和返工流程提供快速、實時x射線檢查。其獨立的控制臺可輕松地適于多種應用,包括多層pcb板、小孔鉆削、大背板和復雜組件（如BGA和芯片封裝）。
CMX8000參數
電壓 | 80KV | 電流 | 150μA |
zui大功率 | 21W | 焦點尺寸 | 0.25x0.25mm |
靶材 | 鎢 | 窗口材料 | 鈦 |
窗口厚度 | 0.005英寸 | 輸入電壓 | 80-230VAC |
陽極 | 接地陽極 | 放大率 | 7-40倍 |
分辨率 | >20 lp/mm | 檢測PCB板zui大尺寸 | 610 x 610mm |
儀器尺寸 | 489.9*317.5*254.0mm | 重量 | 17kg |
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