菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技術亮點：

"二合一" 測量：一次測量同時獲取涂層厚度和成分分析結果，大幅提升檢測效率

三點支撐系統：確保儀器穩定放置，減少測量誤差，提高重復性

高性能 SDD 探測器：硅漂移檢測器，能量分辨率≤160eV，可精確識別從硫 (S) 到鈾 (U) 的元素

超薄涂層測量：精度可達 ±0.1μm，可測微米甚至納米級鍍層

無需校準：采用基本參數法，可直接測量未知樣品，簡化操作流程

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技術參數全解

參數規格

測量原理能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF)

探測器高分辨率硅漂移檢測器 (SDD)

X 射線管鎢靶， 40kV/4W

測量光斑直徑 3mm

測量精度鍍層厚度 ±0.1μm

元素范圍硫 (S,16) 到鈾 (U,92)，最多同時測定 24 種元素

防護等級IP54 (防塵防濺水)，適合戶外使用

重量1.9kg (不含配件)，輕便易攜

電池續航一次充電可連續工作 6 小時

工作溫度0-40℃

數據接口USB、藍牙 (連接平板或 PC)