三維光學顯微鏡ContourGT-I集三十年表面測量之大成，將創新與工業界合作的經驗集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活，優秀的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過布魯克*的掃描頭傾斜技術，該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化，從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。*新一代的Vision64™ 軟件結合改進的樣品臺設計進一步提高了使用的方便性，更有效地提高用戶的測試效率。三維光學顯微鏡ContourGT-I可立刻測試各種樣品，在桌面型系統上實現了以往從未有過的各種特性。 
產品的特點：

實現更快，更簡便測量 

      ? 自動光學傾斜測量頭 

      ? 全自動X,Y, Z樣品臺 

      ? 自動光鏡轉塔，放大鏡，和測試光選擇 

 更靈活而穩定的防震 

      ? 集成式充氣式防震臺 

      ? 高穩定度，空間節省 

更*的測量和分析 

?     簡單明了，人性化的工作流程 

?     實時自動優化測量 

?     完整的數據分析軟件包 

?     可定制的分析報告 

測量高效 

      布魯克*的傾斜測量頭為用戶提供了*的靈活性，實現快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結合頭部傾斜功能，布魯克這一技術實現了將觀察位置始終保持在焦平面處，為用戶實際使用時帶來了很大便利。準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的，這樣在批量測試時速度也大大提高。