聚焦離子束（Xe）掃描電鏡 FERA

FERA3 XM是一款由計算機全控制的Xe等離子聚焦離子束（i-FIB）場發射掃描電子顯微鏡，可選配氣體注入系統 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光學性能、清晰的數字化圖像、成熟和用戶界面友好的SEM/FIB/GIS操作軟件等特點。基于Windows™平臺的操作軟件提供了簡易的電鏡操作和圖像采集，可以保存標準文件格式的圖片，可以對圖像進行管理、處理和測量，實現了電鏡的自動設置和許多其它自動操作。

• 概述
• 軟件
• 技術規格
• 配件
• 圖片
• 其他

分析潛力

• 高亮度肖特基發射可獲得高分辨率，高電流和低噪聲的圖像
• 選配的In-Beam二次電子探頭可獲取超高分辨率圖像
• 三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設計提供了多種工作模式和顯示模式，體現了TESCAN*可優化電子束光闌的中間鏡設計
• 結合了*的電子光學設計軟件的實時電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™）可模擬和進行束斑優化
• 成像速度快
• 低電壓下的電子束減速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可獲取高分辨率圖像（選配）
• In-Beam背散射電子探頭，用于在小工作距離下得BSE圖像（選配），甚至適合鐵磁性樣品
• 全計算機化優中心電動載臺設計優化了樣品操控
• *的幾何設計更適合安裝能譜儀（EDX）、波譜儀（WDX）、背散射電子衍射儀（EBSD）
• 由于使用了強力的渦淪分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快達到電鏡的工作真空。電子槍的真空由離子泵維持。
• 自動的電子光路設置和合軸
• 網絡操作和內置的遠程控制/診斷軟件
• 3維電子束技術提供實時立體圖像
• 低真空模式下樣品室真空可達到500Pa用于觀測不導電樣品
• *的離子差異泵（2個離子泵）使得離子散射效應超低
• 聚焦離子束鏡筒內有馬達驅動高重復性光闌轉換器
• 聚焦離子束的標配包括了電子束遮沒裝置和法拉第筒
• 高束流下超高的銑削速度和的性能
• FIB切割、信號采集、3維重構（斷層攝影術），3D EBSD、3D EBIC與集成3維可視化