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日立是一家全球性的日立公司，通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續，這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色，以確保產品質量、安全性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
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CMI165牛津面銅測厚儀CMI165產品參數
| 價格區間 | 5千-1萬 |
CMI165牛津面銅測厚儀CMI165詳細信息
牛津面銅測厚儀CMI165-- 可測試高溫的PCB銅箔
1、顯示單位可為mils，µm或oz
2、用于銅箔的來料檢驗
3、用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
4、用于電鍍銅后的面銅厚度測試
5、配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭
6、可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
7、利用微電阻原理通過四針式探頭進行銅厚測量，符合EN 14571測試標準
CMI165牛津面銅測厚儀CMI165是一款人性化設計、堅固耐用的世界帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。一直以來，面銅測量的結果往往受到樣品溫度的影響。CMI165的溫度補償功能解決了這個問題，確保測量結果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針防護罩，確保探針的耐用性，即使在惡劣的使用條件下也可以照常進行檢測。
CMI165牛津面銅測厚儀CMI165技術參數：
1、厚度測量范圍：化學銅：0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
電鍍銅：2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)
2、儀器再現性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
3、*的數據統計分析功能，包括數據記錄平均數、標準差和上下限提醒功能。
4、數據顯示單位可選擇mils、μm或oz
5、無需特殊規格標準片，可實現蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 mm
6、可以儲存9690條檢測結果（測試日期時間可自行設定）
7、測試數據通過USB2.0實現高速傳輸，也可保存為Excel格式文件
8、儀器為工廠預校準
9、客戶可根據不同應用靈活設置儀器
10、用戶可選擇固定或連續
儀器使用普通AA電池供電
探針說明：
SRP-T1探針：CMI165可更換探針
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內容聲明：
您訪問的CMI165牛津面銅測厚儀CMI165產品信息，由上海群弘儀器設備有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于CMI165牛津面銅測厚儀CMI165型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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