DIL 402 Expedis Classic 熱膨脹儀，測量樣品因熱環境的變化而引起的尺寸變化。使用該儀器可以精確的測量線性熱膨脹系數，伴隨燒結現象的收縮，以及清楚反映材料的相變、熱處理特性等各種物理和化學變化的線性尺寸的變化。通過復制熱循環及實際過程中的變化速率，可以對引起材料的尺寸變化的過程參數進行充分的研究。功能*的軟件可以控制產生各種熱循環，因此復雜的過程能夠得到容易的模擬。

DIL 402 Expedis Classic 熱膨脹儀技術參數
溫度范圍：RT … 1600°C
升溫速率：0.001 ... 50 K/min
測量系統：NanoEye（單樣品，或雙樣品/差示系統）
樣品支架：熔融石英或氧化鋁，可自由更換。
溫度準確度：1 K
溫度精度：0.1 K
m.CTE（平均線膨脹系數）重復性：10-8 1/K
測量范圍：± 5000 μm
分辨率：2 nm（全量程）
樣品長度：0…52mm（自動樣品長度測量）
氣體控制：1 路（標配），或 3 路（選配）
氣氛：惰性，氧化性，靜態/動態
可選配空氣壓縮冷卻系統