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產品簡介
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 場發射 |
| 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,生物產業,能源 |
含水樣品也無需前處理即可在大氣壓下進行SEM觀察
* 從低真空到大氣壓(數 Pa~105 Pa),可在大范圍壓力下進行SEM觀察
* 標準搭載ES-Corrector(電子束散射校正)圖像改善功能
* 在真空模式下,除了通常的SEM觀察之外,還可進行EDX分析(選配)
* 主機采用330 mm寬度的小型設計,實現節省空間和高便利性
* 無需等待抽真空時間,快速實現從搭載樣品到觀察圖像的全過程
大氣壓觀察(圖1)
低真空觀察(圖2)


圖1:大氣壓或負壓觀察時 圖2:低真空觀察時
(a).樣品設置在標準大氣壓環境下(105 Pa)
(b).配置樣品的大氣壓倉室與SEM內部由隔膜分離,在保持SEM內部真空的同時,可對樣品進行電子束照射觀察
(c).而且,可通過附帶的真空泵在負壓下(約103~105 Pa)進行觀察
(a).隔膜可拆卸,還可進行低真空SEM觀察和EDX分析
(b).搭載了日立臺式顯微鏡TM系列中廣為采用的高靈敏度半導體背散射電子檢測器
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移動站:大氣壓下掃描電子顯微鏡
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