一、產(chǎn)品介紹：

   XAN^® 系列儀器特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準確測量。該系列產(chǎn)品簡單易用且性價比高，因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出。

二、XAN涂鍍層厚度測量儀特性：

1、操作簡單且性價比高。

2、自下而上進行測量，從而快速、簡便地定位樣品。

3、廣泛適用：為各個行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號。

4、以非破壞性方式進行鍍層厚度測量與元素分析。

5、帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機型，可對極薄鍍層及微量成分進行精確測量。

三、XAN涂鍍層厚度測量儀應(yīng)用：

（一）鍍層厚度測量：

1、厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層。

2、時尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進行分析。

3、磨損鍍層，如：對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進行測量。

4、測試納米級基礎(chǔ)金屬化層（凸點下金屬化層，UBM）。 

（二）材料分析：

1、測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度。

2、專業(yè)實驗室、檢測機構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析。

3、依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準則，檢測電子元件、包裝以及消費品中不。合要求的物質(zhì)（例如重金屬）。

4、功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量。