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內容聲明：
您訪問的MProbe系列薄膜測厚儀產品信息，由上海全耀儀器設備有限公司-C自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于MProbe系列薄膜測厚儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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產品簡介
MProbe系列薄膜測厚儀產品參數
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 醫療衛生,生物產業 |
MProbe系列薄膜測厚儀詳細信息
MProbe系列薄膜測厚儀是一種非接觸式、無損的、精確且快速的光學薄膜厚度測量技術。
測量范圍: 1 nm - 1 mm
波長范圍: 200 nm -8000 nm
光斑尺寸:2mum -3 um
產品特點：
a. 測量精度：0.01nm或0.01%
b. 準確度：1nm或0.2%
c. 穩定性：0.02nm或0.02%
d. *的軟件材料庫，包含500多種材料的光學常數
e. 通過Modbus TCP或OPC協議，與其他設備聯用
適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
MProbe系列薄膜測厚儀
標準配置中包含：
1. 主機(光譜儀，光源，電線)
2. 反射光纖
3. 樣品臺及光纖適配器
4. TFCompanion軟件
5. 校準套裝
6. 測試樣品，200nm晶圓
廣泛的應用于各種工業生產及工藝監控中：
半導體晶圓，薄膜太陽能電池，液晶平板，觸摸屛，光學鍍膜，聚合物薄膜等
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