依科視朗Y.Panel-數碼平板探測器擁有10年以上生產使用于工業環境下的數碼平板探測器經驗。我們的員工為ASTM委員會代表，并與BAM（德國聯邦材料研究與試驗學院）緊密合作。他們擁有專業知識，對行業標準作出了決定性貢獻。

依科視朗Y.Panel-數碼平板探測器

Y.面板 XRD系列

• 適應于軟件像素矯正的像素規格

• 模型選擇與應用相對應

• 自主探測器必要安裝和屏蔽設計

• 與主要探測器制造商緊密合作

無論是檢測焊縫、碳纖維增強塑料裝備、電子裝備還是鑄造部件：每個應用需要合適的探測器設計，以取得圖像質量和細節檢測能力。

依科視朗從各類制造商供應的模型中挑出不同模型來完成此項工作。有時，制造商同意做出特定修改，比如減少敏感度。因此，允許有更高的放射量，但探測器不能超負荷。反之，由于信噪比提高，量子噪音降低，且細節檢測能力明顯提高。

在幾年前的一項聯合測試項目中，我們已與制造商一起解決了產品壽命問題，例如相關的Y.Panel XRD探測器模型。同樣，依科視朗已與制造商就修改Y.Panel XRD模型像素規格達成了一致，明確提高了標準模型的清晰度，且與ASTM 2597-E07保持一致。并考慮用Y.IMAGE軟件矯正算法找出足夠完美的相鄰像素以糾正響應不足的像素灰度值。