臺式電鏡TM4000、TM4000Plus

臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。

我們以“更高畫質、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應用。

特點

規格

觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數據，并制作報告。

觀察與分析的靈活性

自動獲取各類數據。快速切換！

可快速獲得元素分布圖^*2

*1TM4000PlusⅡ的功能。

*2選配

臺式電鏡TM4000、TM4000Plus

使用Camera Navi^*的話，就是如此簡單

Camera Navi圖像讓您輕松找到視野，分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

選配：Camera Navi系統

操作簡單且快捷

觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像，并導出測試報告。

Report Creator可讓您輕松制作報告

只需選擇圖像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告

即便是絕緣物樣品，也無需預處理，就可直接進行觀察。

“靜電減輕模式”可抑制靜電現象

對于容易產生靜電的樣品，可使用“靜電減輕模式”，在抑制靜電的狀態下進行觀察。
只需用鼠標在軟件上點擊即可切換到“靜電減輕模式”。

可在低真空的條件下進行多種觀察

對于容易產生靜電的粉末或含水等樣品，可結合其目的進行觀察。

可在低真空的條件下進行二次電子像（表面形狀）觀察。

無需預處理，也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

不僅是觀察傳統的導電性樣品，還可以在無預處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品。可快速進行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

高感度低真空二次電子檢測器

采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產生的光，可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外，通過控制該檢測器，來檢測電子照射所產生的光，可以獲得CL信息（UVD-CL：帶有CL信息的圖像）。

高感度低真空二次電子檢測器的檢測原理

可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析（選配），可進行更高計數率解析。

通過加速電壓20 kV，實現EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag（選配）

可實現在廣域范圍內進行SEM觀察。
搭配自動馬達臺，可實現低倍率，高精度，大范圍的觀察分析。

非常簡單的 EDX 分析

面分析

譜峰分析

線分析

EM 樣品臺（選配）

可輕松觀察 STEM 圖像

與全新開發的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用，可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。

* UVD為 TM4000Plus II上的配件。

樣品：研磨劑
加速電壓：20 kV
觀察信號：(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率：10000 倍    

樣品：老鼠腎臟
加速電壓：15 kV
觀察信號： STEM 圖像
放大倍率：1000倍

樣品：老鼠肝臟
加速電壓：15 kV
觀察信號： STEM 圖像
倍率：5000倍

深圳市矢量科學儀器有限公司秉承“合作共贏，助力科研，促進工業”的理念，信守“產品第一”的承諾，提供頂尖分離/分光分析、元素/物性檢測分析、表面檢測分析及生化檢測分析儀器，服務于科研、教育、醫院、藥業、石油、環保及生命科學等領域，公司以深圳為核心，在成都、武漢等地設有分公司，業務范圍輻射各地，涵蓋各科研院所、大學、醫院、生物制藥單位，食品化工、檢驗檢測、環保行業以及加工制造業等。