產品簡介：

XRD原位熱臺是一款專為X射線衍射儀設計的高精度變溫附件，適用于粉末或片狀樣品在變溫條件下的結構分析，可依據用戶現有設備型號（如布魯克、賽默飛、理學等主流X射線衍射儀）定制適配樣品架。其作為一款專為X射線衍射分析開發的原位裝置，能夠精確調控溫度、力學等多物理場耦合條件，實時監測材料在復雜環境下的結構演變，具備優異的適配性與擴展性，滿足多樣化科研需求。

產品特點：

· 溫控范圍：RT~600℃

· 溫度精度：±0.2℃

· 衍射角0~164°（標準樣品支架）

· 氣密腔室設計（通保護氣氛）

· 可升級真空腔室（10^-3mbar）

· Z方向手動位移臺

· 上位機軟件控制

產品參數：