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美國HindsInstruments研發基于PEM光彈調制原理的Exicor高精度應力雙折射測量系統、MicroImager應力測量顯微鏡、穆勒矩陣測量儀、偏振測量儀、各向異性測量儀、消光比測量儀、PEM光彈調制器、鎖相放大等。
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應力雙折射測量系統產品參數
| 應用領域 | 醫療衛生,電子/電池 |
應力雙折射測量系統詳細信息
前沿靈敏度和重復性
使用Hinds儀器的光彈性調制器(PEM)技術，該系統提供高水平雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率進行調制。靈敏度和重復性很容易提供亞納米級的雙折射測量，對許多應用很重要。
專為簡單、直接的操作而設計
一個大至6“x 6”(可選大尺寸)的光學樣品可以通過手動或自動映射和圖形顯示進行表征。 一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過程。 用戶界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。 該軟件還提供文件管理和校準功能。
應力雙折射測量系統應用：
質量控制計量
低水平雙折射測量的有
平滑玻璃
科學光學元件
激光晶體
DVDs
光刻組件的質量驗證，包括
光掩模
熔石英光學元件
氟化鈣鏡片毛坯和窗口
應力雙折射測量系統主要特點：
在低水平雙折射測量中具有高靈敏度
同時測量雙折射幅度和角度
準確度可重復性
高速測量
光學系統中無移動部件
可變尺寸光學元件的自動映
光彈調制器技術
簡單、便于用戶使用的操作
Exicor 150AT測量通過正在研究的光學樣品的光路上的延遲。它旨在測量和顯示樣品光學延遲的幅度和快軸取向。
設計丟棄了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換的重復性。氦氖激光束被偏振然后由PEM調制。調制后的光束透過樣品并由分光鏡分開。每束光束通過分析儀、光學濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過一個鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。由Hinds 儀器公司開發的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉換為可以確定線性雙折射的參數。計算機從兩個輸入中選擇，允許從兩個信號通道進行連續測量。分析數據，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當在自動映射模式下操作時，x-y平移階段將把樣本移動到下一個預定的測量位置。結果以用戶要求的格式即時顯示。
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內容聲明：
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