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日立是一家全球性的日立公司，通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續，這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色，以確保產品質量、安全性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜（XRF）、X熒光測厚儀（鍍層測厚儀）、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
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掃描電子顯微鏡產品參數
| 應用領域 | 醫療衛生,制藥/生物制藥 |
掃描電子顯微鏡詳細信息
掃描電子顯微鏡憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20kV下實現4.0nm的分辨率。全新開發的用戶界面，具有亮度和對焦自動調節功能，可以在短時間內進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEMMAP”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現最直觀的視野移動。
·盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現4.0nm的分辨率。
·憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現最高的畫質。
·全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現高畫質和高處理能力。
·全新的定位功能“SEMMAP”，支持觀察時的視野搜索和樣品定位。
·大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2。
掃描電子顯微鏡FlexSEM1000II的技術文章
項目 | 內容 |
分辨率*3 | 4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） |
加速電壓 | 0.3 kV～20 kV |
倍率 | ×6～×300,000 （照片倍率） |
低真空設置 | 6～100 Pa |
電子槍 | 集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament） |
樣品臺 | 3軸馬達驅動樣品臺 |
最大樣品尺寸 | 直徑80 mm（選配：直徑153mm） |
最大樣品高度 | 40 mm |
尺寸 | 機體：450（寬度）×640（進深）×690（高度） mm |
選項 | · 高敏感度低真空檢測器（UVD2.0） · 能量色散型X射線檢測器（EDS） |
軟件 | Multi Zigzag（連續視野圖像導入功能） |
相關資質
編號：粵穗食藥監械經營許20190680號
編號：粵穗食藥監械經營備20191625號
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移動站：掃描電子顯微鏡
內容聲明：
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