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內容聲明：
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產品簡介
半導體微量光子檢測顯微鏡產品參數
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,能源,電子/電池,航空航天 |
半導體微量光子檢測顯微鏡詳細信息
半導體微量光子檢測顯微鏡
半導體微量光子檢測顯微鏡
產品特征參數
軟件圖像處理功能
8寸高壓手動氣浮探針臺
紫外、可見光、紅外顯微光學系統
2倍、5倍、10倍、20倍與50倍紅外物鏡
400 -1000 nm 或900-1700 nm響應波長
支持3000 V高壓偏置
相機與源表的一體化控制程序
應用方向
GaN與SiC 基功率器件
的漏電“熱點”定位
GaN基LEDs與結型探測
器的漏電“熱點”定位
Si基MOSFET與IGBT等功
率器件的漏電失效“熱
點”定位
GaAs基激光器光分布與
漏電“熱點”定位
常規的器件的靜態電學
參數測試。
相關系列有關于芯片失效與缺陷檢測都可以聯系我司，可看樣機測試
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編號：滬寶藥監械經營備20220313號
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