化工儀器網(wǎng)手機版
移動端訪問更便捷ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內(nèi),準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
查看更多化工儀器網(wǎng)手機版
移動端訪問更便捷
化工儀器網(wǎng)小程序
更多流量 更易傳播
公眾號:chem17
隨時掌握行業(yè)動態(tài)
| 面議 |
產(chǎn)品簡介
FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,F(xiàn)R-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
典型應用包括:厚玻璃的厚度測量(厚度可達 2 毫米,透明或霧面)晶圓厚度測量(例如直徑達 12 英寸的單面或雙面拋光晶圓)。
FR-Ultra可以很容易地與笛卡爾坐標系和極坐標結(jié)合,用于大面積的厚度測量。

硅片厚度分布圖(12英寸)
特點:
o 單擊分析(無需輸入初始預估值)
o 動態(tài)測量
o 內(nèi)建700種以上不同材料
o 可安裝多個離線分析軟件
o 免費軟件更新

關聯(lián)品牌
ThetaMetrisis是一家私有公司,成立于2008年12月,位于希臘雅典,是NCSR'Demokritos'的微電子研究所的第1家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技術是白光反射光譜(WLRS),它可以在幾埃到幾毫米的超寬范圍內(nèi),準確而同時地測量堆疊的薄膜和厚膜的厚度和折射率。
查看更多留言咨詢
您訪問的FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)產(chǎn)品信息,由岱美儀器技術服務(上海)有限公司自行發(fā)布提供,產(chǎn)品價格為面議,如您想了解更多關于FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)型號、參數(shù)、用途等信息,歡迎咨詢。
該內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布會員負責,為保障安全,建議您在購買相關產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)以及產(chǎn)品質(zhì)量!
相關分類
該廠商其他產(chǎn)品
相關技術文章
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息:
用戶評論
發(fā)布評論