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內容聲明：
您訪問的薄膜鐵電性能綜合測試儀產品信息，由武漢研禾科技有限公司自行發(fā)布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于薄膜鐵電性能綜合測試儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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產品簡介
薄膜鐵電性能綜合測試儀產品參數
| 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,航空航天,綜合 | 動態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hz～5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz |
| 內置激勵 | ±10/30/100/200/500VAC（可定制） | 測試功能 | 動態(tài)電滯回線(DHM)；I-V特性；脈沖(PUND)；靜態(tài)電滯回線(SHM)；疲勞(FM)；漏電流 |
| 最大電荷解析度 | 1mC（可定制） | 漏電流測量范圍 | 1 pA ～ 20 mA |
| 測量精度 | 10 fA | 配件 | 與探針臺配套使用 |
薄膜鐵電性能綜合測試儀詳細信息
FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀與探針臺配套使用，可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試。動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源，用戶可根據需要進行選擇，動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz～500kHz可選，激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選，也可根據用戶需要進行定制。
本測試系統(tǒng)由主控器、探針臺、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內置激勵測試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能，系統(tǒng)軟件包括可視化數據采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測試。
本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法，與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環(huán)節(jié)，容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。
本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口，對于需要做高壓測試、高壓漏電流測試 的用戶，可直接擴展此功能。
用戶選擇此款設備，需向廠家提供測試頻率、激勵測試電壓等要求。
測試功能：
動態(tài)電滯回線(DHM)
I-V特性
脈沖(PUND)
靜態(tài)電滯回線(SHM)
疲勞(FM)
漏電流(LM)
電流-偏壓
保持力(RM)
印跡(IM)
可擴展部件：
探針臺
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移動站：薄膜鐵電性能綜合測試儀
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