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布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應商之一。主要應用于科學研究和發展、工業過程控制以及半導體材料測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產品，例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
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納米紅外光譜產品參數
| 價格區間 | 面議 | 儀器類型 | 實驗室型 |
| 儀器種類 | 傅立葉變換型（FT) | 應用領域 | 環保,石油,能源,制藥/生物制藥,綜合 |
納米紅外光譜詳細信息
納米紅外掃描近場光譜和成像系統 能夠提供：
高性能納米級 FTIR 光譜
高性能紅外近場光譜，采用目前的納米紅外激光源
納米級 FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成
適用于光譜和化學成像的多芯片 QCL 激光源
POINTspectra 激光器可執行多個波長的光譜分析和高分辨光學成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單：
在 AFM 圖像中選擇要測量的特征
測量樣品的波譜，選擇感興趣的波長
采集高分辨光學屬性圖
根據對多個波長的干涉圖的快速測量，獲得空間分辨率達到 10nm 的振幅和相位圖像 實現 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于的互補性紅外光譜分析。
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移動站：納米紅外光譜
內容聲明：
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