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自創立以來，一直著眼于全球市場。囊括了量具行業的多個項目，包括：千分尺、卡尺、深度尺、內徑千分尺、千分表、杠桿千分表、高度尺、微分頭、量塊、線性測微器、光柵尺、粗糙度儀、輪廓測量儀、顯微鏡、硬度計、三坐標測量儀等
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QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀產品參數
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀詳細信息
QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,三豐 HuickViseonWli帶白光干涉復合型高精度3D測量影像儀,可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
產品特點與優勢
HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復合型高精度3D測量系統。
可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行指定高度的尺寸測量和截面形狀測量。
產品陣容
型號
測量范圍：
X軸最大（mm） Y軸最大（mm） Z軸最大（mm）
Hyper QVWLI 302 300 200 190
Hyper QVWLI 404 400 400 240
Hyper QVWLI 606 600 650 220
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內容聲明：
您訪問的QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀產品信息，由美譜勒科技（上海）有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于QVWLI606白光干涉復合型高精度3D測量影像儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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