芯片級低壓雷擊浪涌發生器是一種專為集成電路（IC）或小型電子元器件設計的測試設備，用于模擬雷擊、電源開關瞬態或其他電磁干擾（EMI）引起的低壓浪涌脈沖，以評估芯片的抗浪涌能力及防護電路的可靠性。其核心目標是針對低壓工作環境（如5V、12V、24V等）的芯片，模擬實際應用中可能遭遇的瞬態高壓沖擊（如數千伏短時脈沖），驗證其耐受性和失效閾值

應用領域：

民用設備（白色家電、AV 設備等）；  

工業設備（工業機械、控制設備、辦公設備、醫療器械、游戲設備、測試設備等）；

電子部件（控制電路板及電路板上的電子部件等）；

通信設備（電源線、傳送線路等）；

IEC 61000-4-5   EN 61000-4-5  GB/T 17626.5  和相關產品標準及企業標準