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反射膜厚儀 FT100描述：

緊湊型反射式膜厚儀測量系統，初學者也能輕松上手解析，單點對焦并測量耗時1秒內完成，支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析。用于表征介質保護膜、半導體薄膜、玻璃鍍膜等各種樣式薄膜膜厚的光學計量專業化工具。

反射膜厚儀 FT100功能：

膜層厚度無損測量

避免傳統接觸式測量（如臺階儀）可能造成的劃傷或形變。

支持單層、多層膜測量

通過干涉條紋間距或反射率極值點直接計算厚度。

便攜式設計

模塊化探頭，緊湊機身，產線快速抽檢。

支持平面曲面測量

通過可變入射角設計或曲面補償算法（如修正光程差），測量圓柱透鏡、球面鏡等。

可測多種狀態薄膜

如SiO?、光刻膠、PET薄膜，可通過多峰干涉解析各層厚度。

支持參數調整測量

用戶可保存不同材料的測量模板，提升批量檢測效率。

產品特點：

1.高精度、高穩定性

2.光學干涉方式，無損測量

3.多類解析算法，可精準和估算測量，滿足不同測量需要

4.高速測量，絕大多數樣品可1s內完成測量

5.軟件簡潔，測量一鍵操作，簡單易用

6.機型結構小巧，輕質化設計，便于攜帶

檢測案例：