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布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應商之一。主要應用于科學研究和發展、工業過程控制以及半導體材料測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產品，例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
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力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
| 應用領域 | 環保,化工,生物產業,石油,制藥/生物制藥 |
力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2詳細信息
力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2
簡介
NanoTracker 2是一款基于研究級倒置光學顯微鏡的光鑷平臺，專為敏感操縱、力測量及追蹤實驗設計。該系統允許用戶捕捉并追蹤尺寸從幾微米到30納米的顆粒，提供納米級精度與飛牛級別的力分辨率，實現對樣品的精確控制與實時觀測。
NanoTracker 2是一個基于研究級倒置光學顯微鏡的光鑷平臺，用于敏感操縱、力和追蹤實驗。通過NanoTracker 2，用戶可以捕獲和追蹤從幾微米到30納米的顆粒，能夠以納米級的精度和飛牛的分辨率實時控制、操縱和觀察樣品。
多重捕集器
精準的光學捕集和三維操控
捕獲和追蹤從幾微米到30納米的顆粒： 珠子、油泡、細菌、單分子和小細胞。用于活細胞研究和材料科學。
最小的力
精準的力測量
以MHz的采樣率進行亞pN力的定量測量和位置追蹤。超穩定的1064納米誘捕激光。
靈活性
與共聚焦顯微鏡結合
可與標準光學顯微鏡、原子力顯微鏡和拉曼光譜儀結合。同步光學誘捕、追蹤和優良熒光研究。
NanoTracker 2-為定量力學測試而生
操作模式
· 三維粒子跟蹤
· 點式和捕獲式，便于捕獲定位
· 基于功率譜的在線校準
· 優良的力譜分析，包括使用新的JPK RampDesigner的力鉗和力斜坡。
· 主動和被動力譜成圖
· 顯微流變學模式
· 光學分選
· 陷波器震蕩
· 三維陷波器陣列的復用
· 線形捕集器和圓形捕集器
· 微流變控制
· 納米組裝
· 光學Z型堆疊
優良的光學顯微鏡模式
明視場透射照明（標準）
透射式差分干涉對比（DIC）（標準）
外延式熒光顯微鏡（標準）
拉曼光譜學
TIRF顯微鏡
共聚焦顯微鏡
FRET顯微鏡及更多
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內容聲明：
您訪問的力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2產品信息，由上海富瞻環保科技有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于力感應光鑷和光學捕集平臺 NanoTracker 2型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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