高帶寬與多通道配置：配備 4 個獨立光通道，選件 40A 加持下帶寬大于 40GHz，可同時處理多路高速光信號，滿足多通道并行測試需求，適配復(fù)雜測試場景，減少測試時間成本。

寬波長與高數(shù)據(jù)速率支持：波長覆蓋 830-1600nm，兼容主流光通信波長范圍；支持 20.6Gbd 至 28Gbd（NRZ、PAM4）數(shù)據(jù)速率，且可應(yīng)對 53Gbd（PAM4 TDECQ）高速信號測試，適配當(dāng)前及未來高速光通信技術(shù)發(fā)展需求。

低噪聲與低抖動：光通道噪聲＜5μW，有效降低信號干擾，保障微弱光信號的精準(zhǔn)采集；抖動＜200fs，減少信號時序偏差，確保高速信號測試的時序準(zhǔn)確性，提升測試數(shù)據(jù)可信度。

高分辨率與寬時鐘范圍：采用 16 位 ADC 分辨率，可精準(zhǔn)量化信號細節(jié)，捕捉微小信號變化；時鐘輸入范圍覆蓋 500MHz 至 28.5GHz，適配不同頻率的時鐘信號，增強儀器的兼容性與靈活性。

專業(yè)接口設(shè)計：光輸入采用單模 FC/PC 連接器，具備良好的連接穩(wěn)定性與信號傳輸性能，減少接口接觸損耗，保障測試過程中信號的穩(wěn)定傳輸，降低因接口問題導(dǎo)致的測試誤差。

通信設(shè)備研發(fā)領(lǐng)域：適用于 5G 及未來更高帶寬通信設(shè)備的研發(fā)測試，如光傳輸模塊、基站光接口等，可精準(zhǔn)測試高速光信號的傳輸性能，幫助研發(fā)人員發(fā)現(xiàn)信號傳輸中的問題，優(yōu)化設(shè)備設(shè)計，提升設(shè)備通信質(zhì)量與穩(wěn)定性。

電子元器件測試領(lǐng)域：針對高速光電子元器件，如光芯片、光探測器等，可測試其在不同波長、不同數(shù)據(jù)速率下的性能參數(shù)，驗證元器件是否符合設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)，為元器件的質(zhì)量把控與性能優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持，保障元器件在后續(xù)設(shè)備應(yīng)用中的可靠性。

光模塊生產(chǎn)測試領(lǐng)域：在光模塊的批量生產(chǎn)過程中，可作為測試儀器對光模塊的輸出光信號進行快速、精準(zhǔn)測試，檢測光模塊的帶寬、數(shù)據(jù)速率、噪聲、抖動等關(guān)鍵指標(biāo)，篩選出合格產(chǎn)品，提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品合格率，降低生產(chǎn)過程中的質(zhì)量風(fēng)險。

科研實驗領(lǐng)域：在高校、科研機構(gòu)的高速光通信技術(shù)、光電子技術(shù)等相關(guān)科研實驗中，可作為核心測試工具，為科研人員提供穩(wěn)定、精準(zhǔn)的測試數(shù)據(jù)，助力科研項目的開展與突破，推動相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新與發(fā)展。