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株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立的公司，也是日本*發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史的與技術背景的專業廠商，主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為*代表性單位且在日本精密測定業界占有一席無法被取代的地位。
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KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀產品參數
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀詳細信息
項目 | 內容 | 規格概述 |
1 | 波長范圍 | 420~1000nm |
2 | Resolution | 1 nm |
3 | 膜厚測定范圍 | 250 A- 20 um |
4 | 膜厚測定精度 | T=±5A, N=±0.02 based on SiO2 1100A standard wafer |
5 | 膜厚測定重復性 | SR Thickness repeatability: ≤ 1? (1?) (at 1100?, SiO2/Si) |
6 | 測定光源 | 鹵素燈泡(含 Constant Current Power Supply) |
7 | 透明基板里面反射補正機能 | 包括透明基板背后反射的修正(軟件) |
8 | 測定SPOT徑(Spot Size ) | 50 um Diameter ( 20 X Objective ) , can be smaller with less signal / noise ratio |
9 | Tact time | 2S（測試1S+分析1S） |
KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀
● 緊湊型膜厚量測設備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質
● 多樣化的應用選擇
● 工業標準數據端口
KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀
● 緊湊型膜厚量測設備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質
● 多樣化的應用選擇
● 工業標準數據端口
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內容聲明：
您訪問的KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀產品信息，由江西欣罡科技有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于KOSAKA小坂致東Radiation全光譜反射儀型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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