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Hitachi/日立
代理商
日立科學ZA4000
311
上海市
2026/6/5 17:32:36
產品簡介
| 應用領域 | 制藥/生物制藥 |
HITACHI日立偏振塞曼原子吸收分光光度計
HITACHI日立科學專注于分析儀器和科學設備的品牌,產品涵蓋電子顯微鏡、色譜儀、光譜儀等,廣泛應用于科研、工業(yè)及環(huán)境監(jiān)測領域?。其技術以高分辨率和自動化操作為特點,例如掃描電子顯微鏡(SEM)可進行微觀形貌與成分分析?,高效液相色譜儀Primaide PLUS則以耐用性著稱?。
光譜分析儀器
●ZA4000系列原子吸收分光光度計:支持火焰法快速連續(xù)模式,12種元素連續(xù)測定,偏振塞曼校
正法提升精度。
UH5210雙光束紫外分光光度計:高精度光學系統(tǒng),適用于生物化學分析。
電子顯微設備
●SU3900/SU3800SE系列:場發(fā)射掃描電鏡,突破傳統(tǒng)樣品尺寸限制,超高分辨率。
●S-4800高分辨掃描電鏡:0.5-30KV加速電壓,二次電子圖像分辨率達1nm,支持80萬倍放大。
●AFM5500MII掃描探針顯微鏡:日本進口,納米級表面形貌分析。
生化分析系統(tǒng)
●LABOSPECT 008a:分析儀,優(yōu)化I臨床檢測流程。
●7600-20模塊組合式:D/P型分析模塊可擴展,支持隨機存取測試。
●7170A/7170S:中型隨機任選式生化分析儀,可選配條形碼識別。
HITACHI日立偏振塞曼原子吸收分光光度計
偏振塞曼原子吸收分光光度計ZA4000系列
將日立原子吸收分光光度計邁入新階段
日立通過采用偏振塞曼校正法與雙探測器方法,提供高精度背景校正和高靈敏度測量。
新增的快速順序模式(支持火焰法)使得能夠執(zhí)行更高的通量分析,從而在包
括研究和質量管理在內的多種領域實現(xiàn)快速、精確且高度可重復的測量。

特征
極化塞曼校正方法
僅使用空心陰極燈進行背景校正
使用永磁體的極化塞曼校正方法提供穩(wěn)定的基線,抑制共存材料吸收相鄰波長的影響,并促進高度可靠的分析。

關聯(lián)品牌
日立是一家全球性的日立公司,通過互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù),這些解決方案使生產和開發(fā)過程更加高效、自動化和綠色,以確保產品質量、安全性和合規(guī)性。我們提供實驗室級和強大高性能現(xiàn)場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測厚儀(鍍層測厚儀)、激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
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