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產品簡介
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
| 應用領域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣,綜合 |
中圖儀器SuperViewW光學表面輪廓儀系統一體化高精度測量粗糙度與輪廓度。它以0.1nm級分辨率、8μm/s掃描速度、300+種標準參數,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


1.超高精度,數據可追溯:基于白光干涉技術,形貌重復性低至0.1nm,粗糙度RMS重復性僅0.005nm,臺階測量準確度達0.3%。搭配0.1nm分辨率環境噪聲評價與氣浮隔振底座,即便在車間振動環境中,也能輸出穩定可靠的數據,滿足ISO/ASME等300余種國內外標準要求。
2.高效自動化,降本增效:W1-Ultra型號在0.1nm分辨率下掃描速度高達8μm/s,單區域、多區域測量一鍵啟動,批量樣品可通過編程預設流程實現自動化檢測。某3C電子代工廠應用后,檢測效率提升60%,日均處理樣品量從300件增至480件,人力成本降低30%。
3.全場景適配,無需頻繁換設備:單一掃描模式覆蓋超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質,10mm Z向掃描范圍搭配方形、圓形等多種自動拼接模式,支持數千張圖像無縫拼接,輕松應對半導體研磨件、3C玻璃屏、光學元件等不同類型工件的測量需求。
4.自研軟件,適配性更強:Xtremevision Pro第二代3D測量軟件,可自動識別中圖W/VT/WT系列機型,支持白光干涉與共聚焦模式自由切換,能直接測量微觀平面輪廓的距離、角度等參數,搭配批量分析與多格式報表導出功能,適配質檢存檔與工藝優化全流程。
1. 自研軟件平臺:Xtremevision Pro支持多機型自動識別,白光干涉與共聚焦模式自由切換,可直接測量微觀輪廓的距離、角度等參數。
2. 靈活硬件配置:320×200mm載物臺(負載10kg),標配10×干涉物鏡,可選2.5×-100×鏡頭,適配不同尺寸、類型工件。
3. 安全與便捷:集成式操縱桿控制XYZ軸、速度及光源亮度,急停功能一鍵觸發,新手培訓1天即可獨立操作。
1.半導體制造:適配硅晶片研磨減薄后的粗糙度檢測、光刻槽道輪廓測量,助力頭部企業工藝良率提升8%,檢測數據通過國際標準認證,滿足供應鏈合規要求。
2.3C電子:精準測量手機玻璃屏粗糙度、金屬殼模具瑕疵、油墨屏高度差,批量檢測報表支持Word/Excel/PDF格式自動導出,適配供應鏈質檢存檔需求。
3.光學加工:量化納米臺階高度、光學元件表面輪廓,916.5nm臺階測量重復性達0.08%,幫助企業產品合格率從92%提升至99.2%。
4.汽車零部件:檢測精密軸承孔隙間隙、齒輪表面磨損輪廓,在復雜車間環境中保持數據穩定,某車企質檢周期縮短50%。

1.交貨期:合同生效后30天內免費送貨上門,現場安裝調試。
2.質保服務:驗收后1年質保,故障2小時內響應,72小時上門維修。
3.增值支持:免費技術培訓,質保期后成本價提供備件與維護服務。
SuperViewW光學表面輪廓儀系統為精密制造、科研檢測等領域提供高精度+高效率+高適配的3D表面測量解決方案。如需獲取行業定制化方案、產品演示視頻或免費樣品測試,歡迎聯系中圖儀器。
(注:產品參數與配置可能因技術升級調整,具體以實際溝通為準。)
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