Thermo ScientificTM Element XRTM 電感耦合等離子體質譜儀具備去干擾能力， 從而確保高置信度的結果。針對痕量級別樣品可獲得超高靈敏度和可靠的多元素分析結 果，因此，無需復雜的樣品前處理和方法開發過程。

Element XRTM 電感耦合等離子體質譜儀

質譜分析過程中，當干擾離子質荷比（m/z）與待測離子重疊時就會產生質譜干擾，這是 ICP-MS分析的主要問題。 幸運的是，現在對這些質譜干擾有更好的處理方法。扇形磁質譜的高分辨率可識別干擾離 子和待測離子之間微小的質荷比差異，從而將二者進行物理分離。因此高分辨ICP-MS無需考 慮樣品基體效應，可對元素周期表中幾乎所有元素進行精確的含量和同位素比值分析。 高分辨ICP-MS的簡便性可提供分析性能，同時保持方法開發的直接可靠性。這使 得Element系列HR-ICPMS成為研究和計量機構以及分析實驗室的分析測試平臺。

分析物離子與干擾離子的準確分離是進行可靠精確的多元素 含量和同位素比值分析的前提。高質量分辨率是目前廣泛采用 的質譜干擾分離手段。精密且穩定的高質量分辨率是Thermo  Scientific Element XR 高分辨ICP-MS的獨到之處。當分析物離 子與基體導致的干擾離子可實現直觀物理分離的情況下，分析 人員無需事先了解樣品的基體情況。