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產品簡介
| 測量范圍 | 0-3500nm | 測量精度 | 0.1nm% |
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 臺式 |
| 價格區間 | 面議 | 數顯功能 | 有 |
| 溫控功能 | 無 | 應用領域 | 石油,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
| 重復精度 | 0.1nm |
WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattice公司以其的光子晶體制造技術開發的產品,高精度的測量技術,使其成為專業級的光學測量產品。
雙折射應力測試設備在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的多功能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。
雙折射應力測試設備WPA-200主要特點:
操作簡單,測量速度可以快到3秒。
采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。
測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。
*很高的殘余應力測量設備。
主要應用:
· 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)
· 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)
· 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)
· 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石)
· 有機材料(球晶、FishEve)
技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 523nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <0.1nm(西格瑪) |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm(標準) |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式 |



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PhotonicLatticeInc于2002年在日本仙臺成立,通過自有光子晶體技術開發了偏振相機,應力雙折射測量系統等。
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