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產品簡介
磁性器件無損測量 短沖程型彈簧接觸式探針產品參數
| 供貨周期 | 一個月以上 |
磁性器件無損測量 短沖程型彈簧接觸式探針詳細信息
磁性器件無損測量 短沖程型彈簧接觸式探針
磁性器件無損測量 短沖程型彈簧接觸式探針
日本 Sankei-Engineering 的 CPS10-CPS35 系列屬于“Mini-Probe”彈簧接觸探針，主要特點與信息如下：
- 結構類型
彈簧式接觸探針，適用于高速接觸及斜向接觸場景，可安裝在金屬制探針板上。 - 機械壽命
襯套（bushing）耐久次數 ≥100 萬次（行程 1 mm、60 次/分鐘條件下測試）。 - 材質與磁性
接觸部分采用銅合金 + 無電解鍍層，將探針自身磁性抑制到極低水平，可對帶磁性器件進行無損測量 。 - 安裝方式
- 樹脂襯套壓入式（CPUE 型）
- SK 材金屬襯套壓入式（CPUSK 型）
- 螺釘鎖緊式（CPUM / CPUEM 型），可防止因基板熱脹冷縮導致的探針脫落 。
- 電流規格
提供多種直徑與形狀選配，并支持 4 端子、大電流、耐熱型、帶熱敏電阻等同軸或分離型定制；電流容量、通電時間可按需特注
CPS10 - CPS35 (Spring contact probe)Durability of bushing : more than 1 million strokes(1mm stroke, 60 strokes / 60 seconds)Thermal-endurance : below 100oC
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