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產品簡介
| 應用領域 | 綜合 |
實驗簡介
散斑干涉技術是一種通過對散斑干涉條紋進行分析而獲得測結果的干涉測量方法,可測量物體形變過程中的微小位移。剪切散斑干涉技術與傳統直接測量位移技術不同,主要通過目標平面自身作為參考平面 測量得到位移的空間導數。兩種技術都具有非接觸、全場同時測量、高分辨率等優點,廣泛應用于無損檢測、應變測量、振動分析等領域。我們采用數字散斑干涉和剪切散斑干涉兩種方法來測量物體離面的微小位移,并配套測量軟件,是光電及測控專業學生掌握散斑測量技術的理想實驗系統。
實驗內容
數字散斑干涉光路搭建
數字散斑干涉物體離面位移測量
數字剪切散斑干涉光路搭建
數字剪切散斑干涉離面位移測量
基于相移器的包裹相位提取與相位解算實驗
相位圖數字濾波處理與質量評價研究實驗
相位解包裹算法及感興趣區域(ROI)提取實驗
基于相移器的被測物體離面位移空間梯度定量計算實驗
基于相移器的物體表面形變 3D 視圖重構與結果分析實驗
基于相移器的材料內部缺陷無損檢測(NDT)應用實驗
實驗知識點
數字散斑干涉技術、數字剪切散斑干涉技術、離面位移測量、圖像相減、相關條紋、數字圖像處理技術。
實驗效果圖

物體表面形變 3D 視圖

剪切散斑效果圖

離面散斑效果圖
實驗原理圖

選配件
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YIXIST憶璽智科是一家以先進光電測量技術為基礎,集數字化、網絡化、智能裝備研究、開發、制造和銷售于一體的創新型科技企業。是由杭州市富陽區2022年批準的5110計劃B類海外引進人才所創立的一家朝氣蓬勃,銳意進取的高新技術類型企業。公司力求以實業報國為己任,并以“專注、專業、專心“為經營理念,矢志成為智能裝備制造行業中優秀的供應商和先進技術提供者,為客戶持續創造價值
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移動站:數字散斑與剪切散斑干涉測量實驗
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