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產品簡介
| 應用領域 | 綜合 |
日立離子研磨裝置IM4000 II 具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器!
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的混合模式帶有兩種研磨配置:
斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面以下結構高分辨成像。
平面研磨:將樣品表面均勻研磨5平方毫米,從不同角度有選擇地研磨,以便突出樣品的表面特性。
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的高通量能提高加工效率:
與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設計,減少了橫截面研磨時間。
(參考加工速率:硅元素為300微米/小時 — 加工時間減少了66%。
日立高新離子研磨裝置IM4000(HITACHI Ion Milling System IM4000 )的可拆卸樣品臺裝置:
為便于樣品設置和定義研磨邊緣,可將樣品臺裝置拆卸。
日立離子研磨裝置IM4000 II特點
混合模式:兩種研磨配置
斷面加工:將樣品斷面研磨光滑,便于表面高分辨觀察
平面研磨:不同角度有選擇地,大面積,均勻地研磨5 mm的平面,以突顯樣品的表面特性
高效:提高加工效率
與之前的E-3500型相比,采用新型離子槍設計,減少了橫截面研磨時間
(參考加工速度:硅材質為300 μm/h - 加工時間減少了66%)
可拆卸式樣品臺:
為便于樣品設置和邊緣研磨,樣品臺設計為可拆卸型
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日立是一家全球性的日立公司,通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續,這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色,以確保產品質量、安全性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測厚儀(鍍層測厚儀)、激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
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