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移動端訪問更便捷布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應商之一。主要應用于科學研究和發展、工業過程控制以及半導體材料測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案,用以分析表征廣泛的產品,例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
| 儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 綜合 |
布魯克掃描探針顯微鏡Innova簡介:
Innova掃描探針顯微鏡(SPM)具有高掃描分辨率、出色品質,可應用于物理、生命科學和材料科學等諸多領域。Innova具有很強的靈活性,能以較低成本滿足各種科研應用要求。采用閉環掃描線性系統,較好的設計及工藝確保測量精度以及接近于開環運行時的噪音水平。Innova可以輕松的在90微米掃描管上實現原子級分辨率。集成的高分辨率彩色光學系統,以及可編程和電動Z軸載物臺,使得尋找、對準被測區域,更換針尖或樣品更加快速簡便。
布魯克掃描探針顯微鏡Innova技術參數:
閉環掃描管:XY > 90 μm,Z > 7.5 μm
開環掃描管:XY > 5 μm, Z > 1.5 μm
樣品尺寸: X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm
電動Z軸載物臺:Z軸行程: 18mm
光學系統: 攝像頭: 軸線彩色CCD,帶電動變焦
視場: 1.24mm x0.25mm (電動變焦,10x物鏡)
分辨率: <2μm,標準10x物鏡(50x物鏡<0.75μm)
電子電路:20位DAC控制器,100kHz、±10v ADCs,數字反饋器件
系統軟件:用于數據采集和分析的SPMLab™ v7.0,Windows® XP
主要特點:
Innova在同類SPM中,性價比高
· 閉環掃描控制,在開環噪聲水平上提供三維精確測
· 高分辨光學系統輔助精確探針定位
· 快速更換探針, 開放的樣品臺設計使得使用更方便,更容易
· 擁有所有SPM操作模式,為科學研究提供更高的應用靈活性
· 信號讀錄與輸入功能便于用戶自己設計研究方法
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布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應商之一。主要應用于科學研究和發展、工業過程控制以及半導體材料測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案,用以分析表征廣泛的產品,例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
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移動站:布魯克掃描探針顯微鏡Innova
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