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布魯克是全球X射線分析儀器及軟件的主要供應商之一。主要應用于科學研究和發展、工業過程控制以及半導體材料測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產品，例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
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布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
| 儀器種類 | 納米壓痕儀 | 應用領域 | 綜合 |
布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89詳細信息
布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89，利用掃描電子顯微鏡 (SEM、FIB/SEM)的成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載Bruker的電容傳感技術，繼承了早期商業化原位SEM納米力學平臺的優良功能。
布魯克是國際頗具影響力的分析儀器公司，布魯克納米表面儀器部作為其下屬事業部，一直著眼于研發新的表面計量、檢測方法和工具，提供不同維度的表面表征測試的多種應用方案。我們的核心產品有原子力顯微鏡、探針式輪廓儀、納米壓痕儀、三維光學輪廓儀、摩擦磨損測試機,、SEM/TEM 原位力學桿等。這些設備適用于從高校研究所到工業領域的材料、化學、生命科學、物理、LED、太陽能、觸摸屏、半導體、通信以及數據存儲等領域進行科學研究、產品開發、質量控制及失效分析的準確、高效分析測試的要求，幫助我們的客戶在各自的表面測量測試應用中解決面臨的問題，提升技術和工藝水平，提高研發效率。
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內容聲明：
您訪問的布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89產品信息，由布魯克（北京）科技有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于布魯克掃描電鏡專用原位納米力學系統PI 89型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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