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產品簡介
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
| 應用領域 | 綜合 |
ZEM30 Pro多功能掃描電鏡
LaB6 晶體高亮度燈絲
通用型掃描電鏡的高分辨之選
2.5nm 分辨率 | 25x~360000x 放大倍數
更亮,更清晰
更*的擴展性
ZEM30 Pro 是一款高性能通用型掃描電鏡。它突破性地采用了 LaB6(六硼化鑭)燈絲,相比傳統鎢燈絲提供了更高亮度的電子束源,從而顯著提升了圖像質量,將分辨率推進至 2.5nm @ 30kV。
不僅僅是觀察。ZEM30 Pro 采用模塊化的鏡筒設計,氣動結構確保了光路持續保持高真空狀態。配合 5軸高精度樣品臺 和豐富接口,它能輕松適配拉伸、加熱、冷凍、電學測量等多種原位臺,成為微納材料研究的平臺。
ZEM30 Pro多功能掃描電鏡:
LaB6
高亮度燈絲
提供更優異的信噪比與壽命。
2.5nm
優異分辨率
@30kV 加速電壓下實現。
5軸
樣品臺
X/Y/Z/R/T 全位移動。
技術規格詳情
| 性能對比 (ZEM30 vs ZEM30 Pro) | ||
|---|---|---|
| 參數 | ZEM30 (標準版) | ZEM30 Pro (專業版) |
| 燈絲類型 | 鎢燈絲 | LaB6 燈絲 |
| 分辨率 | 3nm @ 30kV | 2.5nm @ 30kV |
| 加速電壓 | 3kV - 30kV | |
| 放大倍數 | 25x ~ 360,000x | |
| 硬件與樣品臺配置 | |
|---|---|
| 五軸樣品臺 | X: 130mm, Y: 120mm, Z: 65mm R: 360° (旋轉), T: -20° 至 90° (傾斜) |
| 探測器 | 標配:二次電子探測器 (SE)、背散射電子探測器 (BSE) 選配:能譜儀 (EDS) |
| 導航系統 | 光學導航、區域快捷導航、搖桿控制(選配) |
| 重復精度 | 優于 5µm |
| 智能化軟件系統 | |
|---|---|
| 操作系統 | Windows 操作系統,全中文 SEM 軟件界面 |
| 自動化功能 | 自動亮度對比度、自動找光、自動聚焦 |
| 高級分析 | 大視野拼圖、顆粒度分析、灰度 3D 重構 |
| 導航模式 | 光學導航、區域快捷導航、支持搖桿控制 (選配) |
微納原位解決方案
得益于優秀的倉室設計,ZEM30 Pro 可無縫集成多種澤攸科技自研原位臺。
力學測試: 納米力學臺、原位拉伸臺
電學測量: 納米探針臺、熱電芯片臺
特殊應用: 液體/固體電化學臺、MEMS 原位臺
冷凍傳輸: SEM 冷凍真空傳輸系統 (適合生物樣品)
真空保護: 真空轉移盒 (保護敏感樣品)
應用案例
較好的成像技術滿足您的各種要求

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