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PhotonicLattice
代理商
PA-MICRO
259
北京市
2026/4/1 14:37:53
產品簡介
| 測量范圍 | 0-130nm | 測量精度 | 0.1nm% |
| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 臺式 |
| 價格區間 | 面議 | 數顯功能 | 無 |
| 溫控功能 | 無 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
| 測量最小分辨率 | 0.001nm | 輸出值 | 相位差/光程差、軸方向、應力值 |
| 測量波長 | 520nm |
PA-MICRO

該型號適用于 0 到 130nm 的低雙折射產品檢測,可高速測量 500 萬像素的高分辨率雙折射/相位差分布,它是一種能夠在顯微鏡視場中測量雙折射的系統,隨附的顯微鏡可選擇奧林巴斯或尼康。
應用:
通信光纖
晶體
纖維
微小透明樣品
技術參數:
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
4 | 測量最小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | 0.1nm |
6 | 視野尺寸 | 142x170um到3.5x4.2mm |
7 | 選配鏡頭視野 | 無 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制 |
測量案例
北京歐屹科技提供全系列產品技術支持,可根據具體檢測需求提供一對一定制化選型方案,助力精準匹配應用場景。
關聯品牌
PhotonicLatticeInc于2002年在日本仙臺成立,通過自有光子晶體技術開發了偏振相機,應力雙折射測量系統等。
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