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Oji Keisoku (王子計測，OSI) KOBRA-WFD0 是一款專為長條形光學薄膜研發的高精度、自動進樣式光學位相差測量系統，核心用于薄膜的相位差、取向角、波長色散及入射角依賴性分析，是光學膜研發與質檢的設備。

一、核心技術原理

• 測量方法：平行尼科爾旋轉法 (Parallel Nicol Rotation Method)

• 相比傳統旋轉檢偏器法，對超低相位差樣品（如 OLED 圓偏光片基材）靈敏度高。

• 光路穩定性強，可實現超寬量程一次性測量，無需切換檔位。

• 光源系統：6 波段固態 LED 光源

• 波長：450 / 500 / 550 / 590 / 630 / 750 nm (±2 nm)

• 壽命：>20,000 小時，免維護，無需更換汞燈 / 鹵素燈。

二、關鍵技術參數

• 測量范圍

• 相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（覆蓋從超薄膜到厚補償膜全量程）

• 取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

• 精度指標

• 相位差分辨率：0.001 nm

• 相位差重復性：≤ 0.03 nm (150 nm 標樣，590 nm, 3σ)

• 角度分辨率：0.001°

• 樣品規格

• 輪廓測量 (Profile)：寬度 50 mm × 長度任意（支持連續自動送料）

• 入射角依賴測量：30 mm ~ 40×50 mm，厚度 t ≤ 3 mm

• 測量光斑：33 mm2 (5.8 mm 方形)

• 控制系統

• 專用軟件：KOBRA-DSP/FD, KOBRA-RE0

• 支持數據可視化、報告導出、多點分布分析

三、產品核心優勢

1. 寬幅自動進樣

• 專為卷對卷 (Roll-to-Roll) 工藝的長條形薄膜設計，支持連續、自動化的長度方向相位差分布（Profile）測量。

• 大幅提升檢測效率，適合產線抽檢與研發批量測試。

2. 超寬量程與超高精度

• 單次測量覆蓋 0 至 20,000 nm，無需更換檢測器或調整增益。

• 對nm 級超薄薄膜（如 OLED 用 COP 膜）和μm 級厚膜（如大尺寸 LCD 補償膜）均具備納米級測量精度。

3. 多功能分析能力

• 相位差分布 (Profile)：沿薄膜寬度 / 長度方向的均勻性分析。

• 入射角依賴性 (Angle Dependence)：模擬不同視角下的光學表現。

• 波長色散特性 (Wavelength Dispersion)：多波長下的相位差變化趨勢。

四、典型應用領域

• 顯示光學材料：相位差膜、偏光板、OLED/LED 用圓偏光片、液晶補償膜

• 高分子材料：拉伸薄膜、聚酰亞胺 (PI) 膜、COP/Cyclic Olefin Polymer 膜

• 研發與質檢：光學膜材料開發、制程穩定性監控、來料品質檢驗、失效分析

五、總結