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凱視邁五合一光學測量儀全自動三坐標影像儀

KM系列五合一精測顯微鏡，集超景深顯微鏡、影像測量儀、膜厚分析儀、三坐標測量儀、共聚焦顯微鏡五大功能于一體，實現"一機頂五臺"的高效檢測。搭載2500W雙高清相機與雙倍率雙遠心無畸變鏡頭，配合自研亞像素算法，圖像測量精度達±0.7μm，重復定位精度±0.1μm，滿足微米級甚至納米級檢測需求。

凱視邁五合一光學測量儀全自動三坐標影像儀優勢

1、超高精度

高精度相機圖像測量精度±0.7μm

2、超大測量范圍

300×200×100mm測量范圍

3、亞像素算法

采用亞像素技術，將單個像素細分為百分之一，精準識別邊緣

4、高分辨率雙遠心鏡頭

特殊設計的雙倍率雙遠心鏡頭，保證精度，無畸變

超大測量范圍·超高精度

300×200×100mm，可測量范圍，采用直線電機驅動，保證運動平穩性和運動精度

2500w像素相機

配備1個2500W黑白相機和1個2500W彩色相機，超高分辨率很大程度保證測量精度

一鍵閃測模式

基于超大視野導航相機與自研定位算法，無需精確定位即可實現放下即測，極速完成批量檢測。

1、大視野導航相機

無需擺放在特定位置，坐標臺上任意位置均可測量

2、視覺定位算法

無需調整被測物角度，任意旋轉角度均可準確識別

3、批量測量

最多可同時測量1000個被測物，5000個特征

應用方向

超景深成像?：采用多層景深融合技術，呈現高深寬比結構的全視野清晰真彩3D圖像，適用于PCB焊點、金屬斷口等微觀形貌觀察。

?高精度2D/3D測量?：支持點、線、圓、角度等二維尺寸及高度、體積、剖面輪廓等三維空間測量，精度達±0.7μm，替代傳統影像儀與部分三坐標設備。

?膜厚分析?：非接觸式測量透明/非透明膜層厚度，最小可測5μm，適用于半導體晶圓、涂層等材料表征。

?共聚焦粗糙度分析?：獲取表面微觀輪廓，精準測量線/面粗糙度（Ra/Sa）。

?探針測量模式?：配備超低測力雙探針，自動切換，可測深孔、側壁、臺階等復雜3D結構，彌補視覺盲區。

?一鍵閃測?：支持工件無序擺放、任意角度放置，無需夾具，單次最多測量1000個工件、5000個特征，大幅提升批量檢測效率。

該設備廣泛應用于電子、半導體、汽車、醫療等行業，助力企業實現高效、高精度、低成本的智能化檢測升級。

廠家與售后服務

地區:   全國多地有分支機構與服務商

服務：免費樣機演示、上門安裝培訓、定制方案；快速售后響應，支持軟件終身升級與硬件延保；

懇請注意：因市場發展和產品開發的需要，本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。