一、核心產品：超高亮度照明裝置（UIH系列）

1. 產品型號規格對比

2. 共同技術特點

• 可變光強范圍：所有型號的光強調節范圍均在 10:1以上。

• 冷卻保護機制：為保護燈泡，即使主電源關閉，風扇也會持續運轉直至燈室溫度降至約40℃以下（UIH-2D和3D具備過熱強制熄燈功能）。

• 適用對象：智能手機屏幕、半導體晶圓（Wafer）、掩模玻璃（Mask Glass）、硬盤、液晶面板、鏡頭等精密部件的表面及內部檢查。

二、其他主要檢測設備

• 垃圾坑火災監控裝置（TAM系列）：用于監控特定設施的安全裝置。

• 半導體晶圓斷面形狀測量裝置（WEMS、VSSW）：用于半導體制造領域的精密測量。

日本INTECS超高輝度照明光源燈UIH-1C晶圓用日本INTECS超高輝度照明裝置UIH-1C 晶圓用，UIH-2D / UIH-3D，該設備主要用于半導體晶圓、掩模玻璃、光學部件等精密元件的表面瑕疵（如霧狀缺陷/ヘイズ）檢測。

日本INTECS超高輝度照明光源燈UIH-1C晶圓用日本INTECS超高輝度照明裝置UIH-1C 晶圓用，UIH-2D / UIH-3D，該設備主要用于半導體晶圓、掩模玻璃、光學部件等精密元件的表面瑕疵（如霧狀缺陷/ヘイズ）檢測。