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是具有自主知識產權的高科技企業(yè)。公司專業(yè)從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產和銷售。天瑞儀器將以“分析行業(yè)者”的姿態(tài)，不斷探究世界分析領域的。為客戶提供更加的產品和更加滿意的服務，同時為電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等眾多行業(yè)提供更為完善的行業(yè)整體解決方案，從而推動中國經濟快速全球化。
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X熒光測厚儀產品參數(shù)
| 產地類別 | 國產 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
| 應用領域 | 環(huán)保,電子/電池,鋼鐵/金屬,汽車及零部件,電氣 |
X熒光測厚儀詳細信息
X熒光測厚儀EDX2000A
各種鍍層測量原理比較（熒光測厚儀EDX2000A）
| 測試方法 | 測試原理 |
| 金相法 | 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理，對鍍層厚度放大，進行觀測及測量。 |
| 庫侖法 | 利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層，根據(jù)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。 |
| X射線光譜法 | 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產生的離散波長和能量的二次輻射強度與覆蓋層單位面積質量之間存在定的關系。根據(jù)校正標準塊提供的單位面積質量的覆蓋層校正這關系，給出覆蓋層線性厚度。 |
各種鍍層儀器標準、要求、儀器的選型
| 金相法 | 庫侖法 | X射線光譜法 | |
| 測試范圍 | ＞1um | 0~35um | 重金屬0~10um 、其它0~35um |
| 測試精度 | 高 | 稍差 | 高 |
| 制樣 | 制樣復雜 | 配置不同電解液 | 簡單 |
| 工件損傷 | 有損 | 有損 | 無損 |
| 操作方法 | 操作復雜 | 復雜 | 簡單 |
| 測試效率 | 非常低 | 低 | 高 |
| 層數(shù) | 不限 | 單層和Cr/Ni/Cu復合鍍層 | 多5層 |
| 鍍層預知 | 不需要 | 需要 | 需要 |
| 合金鍍層厚度 | 可測 | 不可測 | 可測 |
| 合金成分 | EDS聯(lián)用 | 不可測 | 可測 |
| 溶液成分測試 | 不可測 | 不可測 | 可測 |
| 人為因素 | 影響大 | 影響大 | 影響小 |
| 價格 | 較高 | 低 | 高 |
熒光測厚儀EDX2000A 優(yōu)勢
1、X射線電鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理
2.可快速對樣品做定性分析
3.對樣品可做半定量或準定量分析
4.譜線峰背比高,分析靈敏度高
5.不破壞試樣,無損分析
6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)
7.設備、維修、維護簡單
8.快速，一般測量個樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進行簡單處理。
9.無損：物理測量，不改變樣品性質
10.：對樣品可以分析
11.直觀：直觀的分析譜圖，元素分布幕了然，定性分析速度快
12.環(huán)保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水
熒光測厚儀EDX2000A 設計特點
上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統(tǒng)光路，信號采集效率提升2倍以上。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統(tǒng)，滿足微小產品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺，微小密集型可多點測試，大大提高測樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。
X熒光測厚儀EDX2000A 軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用更加放心。
X熒光測厚儀EDX2000A 技術參數(shù)
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移動站：X熒光測厚儀
內容聲明：
您訪問的X熒光測厚儀產品信息，由深圳市普測檢測技術有限公司自行發(fā)布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于X熒光測厚儀型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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