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內容聲明：
您訪問的日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組產品信息，由津越工業設備(武漢)有限公司自行發布提供，產品價格為面議，如您想了解更多關于日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組型號、參數、用途等信息，歡迎咨詢。
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產品簡介
日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組產品參數
| 按探測器 | CMOS | 光譜范圍 | 可見 |
| 價格區間 | 4千-1萬 | 應用領域 | 綜合 |
日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組詳細信息
日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組
核心硬件參數
激發光源：單模穩頻激光器，532/633nm 70mW，785nm 100mW，線寬＜0.1nm，功率軟件無級可調
光譜范圍：100~2400cm?1 / 100~3600cm?1 雙規格可選
光譜分辨率：4~8cm?1
微區光斑：搭配 100x 物鏡采集光斑＜1μm
探測器：2048 像素線性 CCD，制冷型峰值量子效率 95%
積分時間：2ms~10min 大范圍可調
機身尺寸：超薄厚度 6.35cm（制冷款 8.55cm），輕量化鋁合金模組
供電：標準 DC5V，充電寶可便攜供電
適配設備：尼康、奧林巴斯、徠卡、蔡司全系列正置顯微鏡
日本Musashino 模塊塊化顯微拉曼光譜儀模組
核心優勢
改造式模塊化方案，利用實驗室已有顯微鏡，相比整機拉曼設備大幅降低采購成本
超薄輕量化機身，安裝簡單，不占用臺面空間，支持充電寶戶外便攜檢測
全品牌顯微鏡通用兼容，原有顯微成像功能保留，一機多用
三波長激光按需選配，覆蓋無機、高分子、半導體、二維材料全品類樣品
微米級微區檢測能力，解決微小缺陷、薄層鍍層無法單獨取樣分析的難題
制冷探測器可選，有效抑制熒光、提升弱信號信噪比，復雜樣品檢測穩定性強
完備激光安全聯鎖設計，車間、高校實驗室長期使用安全合規
軟件一體化完成圖譜解析、物質鑒定、化學成像，數據可直接用于論文、檢測報告
適用場景
二維納米材料科研：石墨烯、二硫化鉬等薄層材料晶相、缺陷拉曼表征
高分子塑膠行業：塑料顆粒、薄膜、涂層材質鑒別、填料微區分布分析
礦物、陶瓷材料檢測：礦石晶粒、陶瓷燒結相、夾雜物微區成分溯源
半導體電子行業：晶圓薄膜、光刻膠、鍍層微小區域晶相與應力測試
材料失效分析實驗室：產品微小裂紋、異物雜質原位無損成分判定
微流控、生物芯片原位分析：微通道內微量樣品實時無接觸檢測
高校理化教學科研平臺：低成本搭建顯微拉曼公共實驗設備，滿足多專業課題使用
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