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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
日崎 松下 Panasonic 光學曲面三維測量系統
日崎 松下 Panasonic 光學曲面三維測量系統
在具有散光校正功能的復曲面(Toroid)鏡片或具有漸進多焦點設計的光學件中,X軸和Y軸的曲率半徑并不相同。當探針沿這種非對稱梯度表面移動時,側向摩擦力及形變角度的急劇變化會極大地考驗儀器的循跡控制能力。如果探頭跟隨不暢,獲取的點云數據將會發生幾何扭曲。
【柔性循跡與恒定測力輸出】針對高曲率跳變的應用環境,該設備配備了基于空氣滑塊(Air-Slider)技術的頂面測量探測器(AFP)。它能夠通過輔助激光敏銳偵測 2μm 金剛石觸針的動態反饋,使其像具備視覺一般,自動且柔和地起伏貼合于復雜的復曲面上。全程保持在 0.15~0.30 mN 的接觸測力,有效避免了觸針在陡峭坡面產生“跳躍”或滑痕,保障了測定數據的連貫性。
【多面融合與軟件智能比對】測量復雜曲面僅僅獲取表皮數據并不足夠。該系統配置了高層級的評價軟件群,它支持直接導入該鏡片原始的設計參考面數據,系統將在三維空間中自動進行重合比對與設置誤差的補正。對于裝配型光學組件,其專有的頂側面合成評估技術(運用 S-AFP 探頭捕捉側邊參考基準)可以直觀測算出鏡片實際光軸相較于外殼結構的偏心距離與傾斜弧度,便于在車削環節進行反向補償。
【主要技術規格參數表】
測量功能/模塊 | 規格參數與技術指標 |
|---|---|
基礎測長原理 | 采用 He-Ne 激光光源的激光干涉法 |
坐標軸分辨率 | 0.3 nm (XYZ 各軸向獨立測長) |
坐標軸測量誤差在 | ≤ 0.05 μm (100 mm 內) / ≤ 0.3 μm (500 mm 內) |
頂面測量探測器 (AFP) | 測力恒定控制:0.15 ~ 0.30 mN |
側面測量探測器 (S-AFP) | 測力 0.3 mN;90°傾斜狀態下測定精度 ±0.15 μm |
側面測定角度范圍 | 水平方向:45°~90° / 垂直方向:80°~90° |
觸針材質與規格 | 適用前端角 30 度、r = 2 μm 的金剛石觸針 |
軟件評估功能 | 支持復曲面等設計信息導入、三維補正及 NC 程序轉換 |
【一站式工業儀器儀表供應矩陣】作為專業的儀器儀表綜合供應商,我們致力于為您提供高品質的測量儀器以及全面的檢測方案。代理日本品牌:CCS晰寫速、SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克、SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI林時計、NPM日脈、NS日本科學、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、Kakuhunt寫真化學、NIPPON GEAR日本齒輪、NIDEC尼得科、MIYACHI天田等。優勢日本品牌:USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西、SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、TORAY東麗、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC、S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學、AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野、ANRITSU安立計器、IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮、HEIDON新東科學、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基、AIKOH愛光、SEM坂本電機、SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤、NAGARISHI成茂、RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等。涵蓋的優勢產品線:光學與視覺領域(紫外線照度計、LED視覺光源、色差儀、變色燈箱)、物性分析與力學測試(電子天平、粘度計、應變測試儀、拉拔機、脫泡攪拌機)、環境與氣體監測(水分計、采樣泵、氣體檢測儀、氧氣濃度計)、基礎電氣(焊接機、應力表面檢查儀、壓力傳感器、接近開關、異音檢測儀、拉針儀、水平測試儀)等,為您提供專業的選型建議與周到的供貨支持。期待與您的合作!
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松下(英文名稱:Panasonic),是日本的一個跨國性公司,在*設有230多家公司,員工總數超過290,493人。其中在中國有54,000多人。
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