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日本 Takano 高野 液晶面板膜厚檢測裝置 日本 Takano 高野 液晶面板膜厚檢測裝置

1. 產品概述

本設備專為 LCD 液晶面板產線打造，替代人工目檢，搭載線性線陣相機，搭配透射 / 反射雙模式 LED 照明，全自動識別 CF 彩色濾光、TFT 旋涂工序樹脂涂層 ** 姆拉（膜厚不均）** 缺陷；適配 2200×2500mm 大尺寸基板，30 秒內完成單張全幅掃描，可對戶現有輸送流水線改造，穩定檢出 1mm 以上膜層厚薄異常，覆蓋 OC 膜、PI 膜各類樹脂涂層制程。

2. 整機完整規格參數

表格

項目參數詳情

拍攝成像線性感測線陣攝像頭

照明模式透射照明 / 反射照明雙模式切換

光源系統定制 LED 光源，搭配對應工序專用光學濾光片

輸送對接流水線輸送，可改造適配客戶現有產線

缺陷檢出能力≥1mm 膜厚不均姆拉缺陷

檢測節拍≤30 秒 / 張（2200×2500mm 大基板）

3. 兩大核心產品特長

全制程覆蓋姆拉自動化檢測

適配 CF 彩色濾光、TFT 旋涂、各類樹脂涂層全工序，全程自動掃描，替代人工目視檢測，降低人力漏檢。

全類型膜層缺陷穩定檢出

可識別 OC 膜不均、PI 膜不均、各類樹脂涂層厚薄條紋、塊狀色差等姆拉不良，兼容多種成因的膜層缺陷。

4. 可檢測工序與缺陷類型

適用制程

CF 彩色濾光片 注冊姆拉缺陷檢測

TFT 基板旋涂工藝膜厚不均檢測

全段樹脂涂層薄膜外觀檢測

典型缺陷

OC 膜層厚薄不均、PI 膜層涂布不均、樹脂涂層條紋、塊狀色差、局部薄厚異常

五、適用行業客戶

LCD 液晶面板廠、OLED 顯示面板工廠、CF 彩色濾光片制造企業、TFT 基板代工企業、顯示材料涂布產線廠商

六、缺陷成像檢測效果

設備輸出清晰面板灰度成像，直觀區分 OC 膜、PI 膜局部厚薄凸起 / 凹陷，標記塊狀、條狀膜層不均區域，自動分類不良類型，同步記錄缺陷坐標用于產線追溯。