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設立1963年(昭和38年)8月1日資本金4600萬日元代表人董事長藤村俊也員工人數51人行業電子應用特種儀器、工業儀表的研發、制造銷售及采購銷售主要產品膜厚計、針孔探測儀、鐵片探測儀、檢針器、水分計、鋼筋探測儀、結露儀、超聲波厚度計、金屬探測儀等
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日本SANKO三高測厚儀雙型薄膜厚度計探頭產品參數
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 1萬-2萬 |
| 應用領域 | 醫療衛生,食品/農產品,化工,電子/電池,汽車及零部件 |
日本SANKO三高測厚儀雙型薄膜厚度計探頭詳細信息
日本SANKO三高測厚儀雙型薄膜厚度計探頭SFe-0.6LNA
日本SANKO三高測厚儀雙型薄膜厚度計探頭SFe-0.6LNA
特征
由于探針兼容性，它可以自由地與主機組合。
根據被測目標的不同，連接的可能是鐵基（電磁）型或非鐵金屬（渦流）類型。
你可以根據應用和測量范圍選擇探針，比如適合測量微碎片的高穩定性探頭。
自動識別并評判基礎金屬（SFN-325）。
探頭（單獨出售）兼容電磁和渦流
型號名稱
SFN-325
連接器類型
SWT-NEO系列（NEO、NEOII、NEOIII型號）
測量方法
電磁與渦流雙用途類型（自動基極檢測）
測量范圍
鐵底：0–3.00毫米;有色金屬：0–2.50毫米
物質鑒定
自動辨別與手動切換
表示分辨率
1μm：0~999微米
，開關：
0.1μm：0~400μm 0.5微米：400~500μm
0.01毫米：（鐵基1.00–3.00毫米）（非鐵堿基1.00–2.50毫米）
，開關：
0.1μm：0~400μm 0.5微米：400~500μm
0.01毫米：（鐵基1.00–3.00毫米）（非鐵堿基1.00–2.50毫米）
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0–100微米：±1微米
或在指示值
±2%以內（鐵堿）101微米至3.00毫米：非鐵堿基最高±2%）
101微米至2.50毫米：最高±2%）
或在指示值
±2%以內（鐵堿）101微米至3.00毫米：非鐵堿基最高±2%）
101微米至2.50毫米：最高±2%）
探針
一點恒壓接觸型，帶V型切口，
φ15×50.9毫米，72克
φ15×50.9毫米，72克
選項
V型探針適配器
配件
標準厚板，零點測試板（用于鐵和有色金屬）
探頭（單獨出售）電磁感應式
型號名稱
SFe-2.5※1/2.5L
SFe-2.5LwA
測量方法
電磁感應型
測量范圍
0~2.50毫米
表示分辨率
1μm：0~999μm
，通過切換方式：
0.1μm：0~400μm，0.5μm
：400~500μm，0.01mm
：1.00~2.50mm
，通過切換方式：
0.1μm：0~400μm，0.5μm
：400~500μm，0.01mm
：1.00~2.50mm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0~100微米：±1微米
或指示值±2%以內
101微米~2.50毫米：指示值±2%以內
或指示值±2%以內
101微米~2.50毫米：指示值±2%以內
探針
單點恒壓接觸型，V型切口
2.5：φ15×47毫米
，2.5升：18x22x67毫米
2.5：φ15×47毫米
，2.5升：18x22x67毫米
一點恒壓接觸型，
測量截面：約24×27×56毫米，
全長約550–1,540毫米（伸縮式）
測量截面：約24×27×56毫米，
全長約550–1,540毫米（伸縮式）
選項
V型探針適配器※2/ ー
—
配件
標準厚板，零點測試板（用于鋼材）
標準厚板，測試零板（鋼板）
存儲箱
存儲箱
測量目標
涂層、
襯里、熱噴涂膜、電鍍
（不含電解鎳鍍層）在磁性金屬基板如鐵和鋼等上。
襯里、熱噴涂膜、電鍍
（不含電解鎳鍍層）在磁性金屬基板如鐵和鋼等上。
用于在磁性金屬基材如鐵和鋼、襯里
及其他無法達到的高或
遠距離涂層厚度測量上進行涂層
及其他無法達到的高或
遠距離涂層厚度測量上進行涂層
*1. 該探針具有耐熱性（約200°C）（SFe-2.5）。 如需更多詳情，請聯系我們。
*2. V型探針適配器有三種類型（適用于φ5或以下，φ5–10，φ10–20）
型號名稱
SFe-0.6L
SFe-0.6LNA
SFe-0.6筆
測量方法
電磁感應型
測量范圍
0?600μm
表示分辨率
1μm：0~600μm
根據開關不同，0.1μm
：0~400μm
0.5μm：400~500μm
根據開關不同，0.1μm
：0~400μm
0.5μm：400~500μm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0~100微米：±1微米
或指示值±2%以內
。101微米至600微米：在指示值±2%以內
或指示值±2%以內
。101微米至600微米：在指示值±2%以內
探針
單點恒壓接觸型，
測量截面：8.1×13.5×118.5毫米
測量截面：8.1×13.5×118.5毫米
單點恒壓接觸類型，
測量截面：8.6×18×91毫米，
總長度：382.5毫米
測量截面：8.6×18×91毫米，
總長度：382.5毫米
單點恒壓接觸型，帶V型切口，
φ5.6×92.2毫米
φ5.6×92.2毫米
配件
標準厚板，零點測試板（用于鋼材）
測量目標
用于在磁性金屬基材如鐵和鋼上涂層，測量襯
里等狹窄區域和
難以觸及的小區域的涂層厚度
里等狹窄區域和
難以觸及的小區域的涂層厚度
用于在鐵和鋼等磁性金屬基材上的涂層，測量襯
里和
小區域內的涂層厚度
里和
小區域內的涂層厚度
型號名稱
SFe-10
SFe-20
測量方法
電磁感應型
測量范圍
0~10毫米
0~20毫米
表示分辨率
1μm：0~999μm
0.01mm：1~10mm
0.01mm：1~10mm
1μm：0~999μm
0.01mm：1~5mm
0.1mm：5~20mm
0.01mm：1~5mm
0.1mm：5~20mm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0~3毫米：±45毫米（5微米+適應癥3%） 3.01毫米
及以上：指適應癥值±3%以內
及以上：指適應癥值±3%以內
探針
單點恒壓接觸型，V型切口，
φ20.4×47.1毫米
φ20.4×47.1毫米
單點恒壓接觸型，V型切割
φ35×55毫米
φ35×55毫米
配件
標準厚板，零點測試板（用于鋼材）
測量目標
用于測量鐵和鋼等磁性金屬基底上的相對較厚材料
用于測量鐵和鋼等磁性金屬基底上的厚物體
探針（單獨出售）渦流類型
型號名稱
SNFe-2.0/2.0L
測量方法
渦流類型
測量范圍
0~2.00毫米
表示分辨率
1μm：0–999μm;0.01mm：1.00–2.00mm
;根據切換方式：
0.1μm：0–400μm，0.5μm
：400–500μm
;根據切換方式：
0.1μm：0–400μm，0.5μm
：400–500μm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0–100微米：±1微米
或指示值±2%以內
。101微米至2.00毫米：在指示值的±2%以內
或指示值±2%以內
。101微米至2.00毫米：在指示值的±2%以內
探針
單點恒壓接觸式，V型切口
2.0：φ15×47毫米
2.0升：18×22×67毫米
2.0：φ15×47毫米
2.0升：18×22×67毫米
V型探針適配器※/ ー
配件
標準厚板，測試零板（非鐵合金型）
測量目標
在鋁、銅等非磁性金屬基板上絕緣薄膜。
相對多功能的測量對象
* V型探頭適配器有三種類型（適用于φ5或以下，φ5–10，φ10–20）
型號名稱
SNFe-0.6
SNFe-5
SNFe-8
測量方法
渦流類型
測量范圍
0~600微米
0~5.00毫米
0~8.00毫米
表示分辨率
1μm：0~600μm
根據開關不同，0.1μm
：0~400μm
0.5μm：400~500μm
根據開關不同，0.1μm
：0~400μm
0.5μm：400~500μm
1μm：0~999μm
0.01mm：1~5mm
0.01mm：1~5mm
1μm：0~999μm
0.01mm：1~8mm
0.01mm：1~8mm
測量精度
（垂直于光滑表面測量）
（垂直于光滑表面測量）
0–100微米：±1微米
或指示值±2%以內
。101微米至600微米：
在指示值±2%以內
或指示值±2%以內
。101微米至600微米：
在指示值±2%以內
0–3毫米：4 ±（5微米 + 指示值的3%）3.01
毫米或更大：在指示值±3%以內
毫米或更大：在指示值±3%以內
探針
帶有
V型切割
φ13×45.5毫米的一點恒壓接觸型
V型切割
φ13×45.5毫米的一點恒壓接觸型
單點恒壓接觸型，V
型切割
φ20.4×47.1mm
型切割
φ20.4×47.1mm
單點恒壓接觸型，V
形切口
φ35×59毫米
形切口
φ35×59毫米
—
配件
標準厚板，測試零板（非鐵合金型）
測量目標
在鋁、銅等非磁性金屬基板上絕緣薄膜。
對于用細圓桿、細管、微芯片等高穩定性的選擇。
用于測量相對較厚的物體
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