日本bunkoukeiki 透鏡型分光光譜檢測設備

基礎核心參數

1. 工作原理：校正像差透鏡光路分光分離可見光，光纖導入待測光源，光柵拆分不同波長光線，搭配波長刻度盤讀取光譜數值，可選 CCD 探測器采集完整光譜曲線，完成微弱光、多點試樣分光檢測

2. 完整型號區分

• CLP-400：標準 400mm 焦距可見光透鏡分光器

• CLP 系列短焦款：100/200/300mm 焦距，適配小型實驗

• CLP 紫外近紅外款：拓展波段，適配多區間光譜測試

3. 光學結構：低像差透鏡式專用光路

4. 焦距規格：400mm 標準焦距

5. 孔徑比值：F2.8 大孔徑，透光效率高

6. 適用波段：400~700nm 可見光區間

7. 采集配置：支持最多 50 路光纖多點同步測定

8. 拓展配件：預留 CCD 探測器、濾光片安裝支架

9. 調節部件：手動波長刻度盤、數值計數器精準調段

10. 整機結構：臺式一體化金屬機身，臺面放置

11. 供電規格：交流工業市電供電

12. 使用環境：恒溫無塵光學實驗室，無強雜光干擾工況

日本bunkoukeiki 透鏡型分光光譜檢測設備

核心功能特點

1. F2.8 大孔徑明亮光路，微弱光源也可穩定采集光譜信號

2. 低像差透鏡光學設計，相比普通鏡面分光器空間分辨更佳

3. 支持多路光纖同時接入，實現多點試樣同步分光檢測

4. 標配波長刻度與數字計數器，波長讀取直觀精準

5. 預留濾光片、CCD 探測器拓展位，適配熒光、成像光譜實驗

6. 光路密封性良好，降低外界雜光對檢測結果的干擾

7. 臺式緊湊機身，拆裝光纖、更換配件操作簡單便捷

8. 長時間連續檢測穩定，適合長周期熒光、發光材料實驗

適用場景

1. 光電材料研發：熒光材料、發光器件微弱光譜性能檢測

2. 光學基礎實驗：可見光區間多點同步分光對比測定

3. 顯示器件評測：屏幕、發光像素光譜分布分析實驗

4. 微觀光學檢測：搭配顯微鏡完成微區試樣光譜采集

5. 高校光電實驗室、第三方光學檢測機構實驗標定驗收