IET Labs 7660 精密LCR測(cè)試儀

IET Labs 7660 精密LCR測(cè)試儀 產(chǎn)品介紹

概述

IET Labs 7660 精密LCR測(cè)試儀是一款面向元件與材料測(cè)試需求的阻抗測(cè)量?jī)x器，頻率覆蓋范圍10 Hz至2 MHz。該儀器可測(cè)量14種不同的阻抗參數(shù)，適用于產(chǎn)品研發(fā)、來(lái)料檢驗(yàn)及產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試等場(chǎng)景。

7660沿用了7600 Plus LCR測(cè)試儀的用戶(hù)界面和指令集，可作為7600 Plus的替代方案。

主要特點(diǎn)

測(cè)量參數(shù)豐富：可同時(shí)測(cè)量并顯示14種阻抗參數(shù)中的任意兩組，涵蓋電容（Cs/Cp）、電感（Ls/Lp）、電阻（Rs/Rp）、損耗因子（D）、品質(zhì)因數(shù)（Q）、阻抗（Z）、導(dǎo)納（Y）、相位角、等效串聯(lián)電阻（ESR）、電導(dǎo)（Gp）、電抗（Xs）、電納（Bp）等。

頻率與信號(hào)可編程：測(cè)試頻率10 Hz至2 MHz連續(xù)可調(diào)，分辨率6位或0.05 Hz，頻率精度±(0.01% + 0.10 Hz)。交流測(cè)試電壓可編程設(shè)定為20 mV至5 V。直流偏置電壓支持內(nèi)部2 V或外部0至200 V。

多種測(cè)量速度：提供快速、中速、慢速三檔測(cè)量模式，其中快速模式可達(dá)120次/秒。

掃描測(cè)量功能：支持對(duì)測(cè)量參數(shù)隨頻率、電壓或電流變化的掃描，可呈現(xiàn)圖形或表格數(shù)據(jù)，單次掃描最多250個(gè)測(cè)量點(diǎn)。掃描過(guò)程中可使用方向鍵控制光標(biāo)查看曲線(xiàn)上任意點(diǎn)的頻率與測(cè)量值。

開(kāi)路/短路補(bǔ)償：配備自動(dòng)開(kāi)路/短路補(bǔ)償功能，有助于消除連接誤差。

顯示與操作：配備7英寸TFT彩色顯示屏，測(cè)量結(jié)果可通過(guò)顏色變化直觀(guān)顯示通過(guò)/不通過(guò)狀態(tài)。

測(cè)試序列：可自動(dòng)依次執(zhí)行最多6項(xiàng)不同的測(cè)試。

數(shù)據(jù)與程序存儲(chǔ)：測(cè)試設(shè)置可存儲(chǔ)于內(nèi)部存儲(chǔ)器或USB存儲(chǔ)設(shè)備，測(cè)量數(shù)據(jù)也可保存至USB設(shè)備并轉(zhuǎn)移至PC進(jìn)行分析。

負(fù)載校正：通過(guò)對(duì)已知標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行測(cè)量并將校正應(yīng)用于后續(xù)測(cè)量，有助于提升重復(fù)測(cè)試的一致性。

現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)：配合IET/QuadTech 7000-09校準(zhǔn)套件，可在使用現(xiàn)場(chǎng)完成校準(zhǔn)，無(wú)需將儀器返廠(chǎng)。

接口配置：標(biāo)配USB Type-B、RS-232、GPIB和LAN接口。

鍵盤(pán)鎖定：具備鍵盤(pán)鎖定功能，可防止測(cè)試設(shè)置被誤改。

技術(shù)規(guī)格

注：基本測(cè)量精度為在優(yōu)化測(cè)試信號(hào)電平、頻率及被測(cè)件條件下的典型值，未計(jì)入校準(zhǔn)不確定度。

應(yīng)用場(chǎng)景

7660適用于以下典型應(yīng)用場(chǎng)景：

• 元件與材料測(cè)試：配合介質(zhì)測(cè)試夾具（如LD-3）可用于介電常數(shù)測(cè)量

• 產(chǎn)品研發(fā)：用戶(hù)友好的菜單編程方式便于研發(fā)階段的阻抗分析

• 來(lái)料檢驗(yàn)：測(cè)試設(shè)置可存儲(chǔ)和調(diào)用，便于重復(fù)性檢測(cè)

• 產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試：支持序列測(cè)試和通過(guò)/不通過(guò)判定，適合批量檢測(cè)

• 校準(zhǔn)與計(jì)量：可使用空氣電容標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行頻率響應(yīng)驗(yàn)證

IET Labs 7660 精密LCR測(cè)試儀