總經銷！日本電子JEOL光電子光譜儀 

總經銷！日本電子JEOL光電子光譜儀 

日本電子（JEOL）推出的JPS-9030是一款X射線光電子能譜儀（XPS/ESCA），專為固體材料表面元素組成與化學態分析而設計。該設備采用Mg/Al雙陽極X射線源，通過探測X射線激發出的光電子能量，實現對樣品最表層（通常<10 nm）除H、He外所有元素的定性與定量分析，并對化學環境敏感。

參數項目性能指標

X射線源Mg/Al雙陽極 (12 kV, 50 mA)

靈敏度 (Ag 3d?/?)≥ 1,000,000 cps (FWHM ≤ 1.0 eV)

能量分析器靜電半球分析器

掃描方式恒分析器能(CAE) / 恒減速比(CRR)

刻蝕離子源Kaufman型 (刻蝕速率1~100 nm/min)

本底真空度≤ 7×10?? Pa

該設備支持寬區分析（毫米級），可獲取粉末、薄膜等不均勻樣品的平均成分信息。其標配的Kaufman型離子源可進行深度剖析，并可選配紫外光源、單色化X射線源及氣體團簇離子源（GCIB），廣泛應用于半導體、能源材料及納米技術領域。

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