TFS2100 非接觸斷面粗糙度測定裝置采用超細光斑激光傳感方案，突破傳統接觸式粗糙度儀容易劃傷軟質、拋光樣品的短板，依靠非接觸掃描方式完成斷面輪廓與表面粗糙度同步檢測。設備搭載 φ2μm 微小光斑，能夠捕捉微觀細微表面起伏，測量精度可達 0.01μm；獨特光路設計支持透明工件與鏡面反光工件穩定測量，材質適應性廣泛。粗糙度運算規則遵循 JIS'94、JIS'01 工業標準，測量數據可與傳統檢測設備對標比對，同時支持導入企業自定義粗糙度評判參數，滿足企業個性化質控需求。系統兼容市面主流激光位移傳感器，硬件搭配靈活，數據采集速度快，多種掃描測量模式可供切換。整機結構緊湊占地小，配套軟件操作簡潔，自動生成輪廓曲線與粗糙度分析報告。廠商可根據待測工件外形、尺寸定制運動平臺與掃描行程，適配實驗室研發抽檢與產線品質檢測場景，廣泛應用于精密金屬加工、光學元件、薄膜材料、橡塑制品的表面形貌與粗糙度檢測。

金屬板材、精密機加工件粗糙度檢測；樹脂、橡膠、薄膜表面輪廓測量；光學玻璃、透明基材斷面掃描；模具微觀形貌分析；新材料研發表面特性測試。