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產品簡介
| 產地類別 | 進口 |
日本代理OTSUKA大塚電子光波動場3D顯微鏡
日本代理OTSUKA大塚電子光波動場3D顯微鏡
nm等級的透明異物?缺陷量測評價
不僅只于表面,1次取樣瞬間取得深度方向的情報
無需對焦即可高速量測
非破壞?非接觸?非侵入式量測
輕松掃描量測面內任意位置深度
量測時無須對焦,數據取得后可使用軟體任意聚焦于想要觀察的深度表面。

單次量測可取得XY(700×700μm),Z深度1400 μm的所有資訊。
以非接觸?非破壊?非侵入方式取得nm奈米等級的形狀情報。一次取樣即可取得深度方向的所有情報,將肉眼不可見的透明薄膜表面的傷痕、缺陷等橫切面形狀數值化。
肉眼不可見的透明薄膜內部的填充料,由一次取樣即可觀察。量測后可自由改變深度方項,識別各個深度的填充料。
可以快速視覺化和量化在表面或內部形成的肉眼無法看到的透明結構。
圖為黏著劑在載玻片上干燥狀態,右邊為紅線的橫切面。
在一次性成像模式下,可以視覺化和量化不斷變化的形狀,例如液體。
可以用來評估動態變化的物體并闡明動態現象的機制。
圖為載玻片上甲醇的蒸發現象。
傳統顯微鏡在觀察細胞等透明物質需要染色,光波動場3D顯微鏡在明視野模式下可以不需染色直接觀察,更能清楚看到細胞核等。
| 光波動場3D顯微鏡MINUK | |
|---|---|
| 解析度 x,y | 691nm(一次取樣)、488nm(合成) |
| 視野 x,y | 700×700μm |
| 解析度 z | 10nm(位相差) |
| 視野 z | ±700μm |
| 樣品尺寸 | 100×80×t20mm(使用泛用載臺時) |
| 樣品載臺 | 微調XY載臺(自動) X:±10mm Y:±10mm 粗調載臺 X:129mm Y:85mm |
| 雷射光源 | 波長638nm 功率0.39mW 以下Class1 (量測樣品的照射強度) |
| 機臺尺寸 | 機臺本體:505(W)×630(D)×439(H) ±20mm ※不含電腦、附屬品 |
| 重量 | 約41kg |
| 電力 | 機臺本體:290VA ※不含電腦、附屬品 |
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大塚電子主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價?檢查。以高速?高精度?高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎,在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例,為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源?照明相關方面,對國家級研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。
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