設備基礎規格

1. 測量項目：半球入射半球反射、半球發射率 εH

2. 測量范圍：0.05～0.95

3. 傳感器波長范圍：0.6～42μm（覆蓋 300K 黑體輻射能量 95%）

4. 測量不確定度：0.03

5. 單次測量時間：1～3 分鐘

6. 標準校準樣品：金蒸鍍鏡面（εH=0.05）、黑色 Kapton 薄膜（εH=0.85）

7. 設備構成：測定部（內置約 60℃黑體爐、鍍金積分球、熱電堆檢測器）、操作控制部

8. 供電：DC12V 1A 適配器，支持電池供電

9. 外形尺寸

   操作部：145×82×32mm

   測定部：125×60×74mm

10. 重量：操作部約 0.2kg，測定部約 0.7kg

11. 保管條件：溫度 10～45℃，濕度 50% RH

    
    

核心產品特性

PM-E2 便攜式半球發射率測量儀由日本株式會社興栄基于 JAXA 航天科研技術商品化開發，聚焦航天器熱設計所需的半球發射率檢測需求，區別于普通單向垂直發射率檢測設備，可精準采集材料半球方向整體輻射能量數據。儀器采用分體便攜設計，操作單元與測定單元相互獨立，機身輕巧便于現場取樣測試。設備搭載內置黑體爐、內鍍金積分球與熱電堆檢測器，能夠在常溫環境快速完成樣品檢測，單次測試僅需 1 至 3 分鐘，同時維持 0.03 的優異測量不確定度。測試過程嚴格控制樣品表面溫度一致性，規避輻射干擾帶來的數據偏差，保障檢測結果穩定可靠。整機操作流程簡潔，配備基準樣品校準功能，支持數據顯示與 PC 端存儲導出，硬件采購成本相比大型實驗室設備更具優勢。除標準試樣檢測外，儀器支持小型樣品表面反射性能測試，適配各類薄膜、涂層、板材試樣，靈活滿足實驗室研發、現場來料抽檢需求。

適用場景